在電子產(chǎn)品生產(chǎn)過程中，產(chǎn)品的高溫老化測(cè)試是提高產(chǎn)品可靠性、確保產(chǎn)品在極端條件下性能穩(wěn)定的重要測(cè)試工序。電子產(chǎn)品，無論是元器件，半成品，或整機(jī)，或設(shè)備，都需進(jìn)行測(cè)試和老化。測(cè)試與老化不是一個(gè)概念。先進(jìn)行老化再功能測(cè)試。

幾乎所有的電子產(chǎn)品通過生產(chǎn)制造后，變成了完整的產(chǎn)品，具有了產(chǎn)品的功能，具有了使用價(jià)值了，但產(chǎn)品使用后，有些會(huì)出現(xiàn)各種各樣的毛病，而且這些毛病大部分發(fā)生開始的幾小時(shí)至幾十小時(shí)之內(nèi)，有監(jiān)于此，于是規(guī)定了電子產(chǎn)品的老化和測(cè)試，仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài)，這個(gè)過程由產(chǎn)品生產(chǎn)廠家來完成。

通過老化和測(cè)試，提前把產(chǎn)品的的問題暴露出來，把有問題的產(chǎn)品消滅火在生產(chǎn)線上。出廠的是沒問題的產(chǎn)品，以保證賣到用戶手中的產(chǎn)品是可靠的。這就是老化測(cè)試的意義。